解决方案
介绍采用高迎最新技术的True 3D检测解决方案和智能工厂解决方案。
Meister D/D+
解决方案 / 工业用 / 半导体检测解决方案 / Meister D/D+
Meister D是一款用于改善半导体&LED封装工艺的True 3D AOI解决方案，通过最新的光学系统和优化的人工智能引擎，在保障快速检测速度的同时提供稳定检测。
Meister D+是一种将业界领先的 Moiré 测量检测技术与高迎独有的新型光学技术相结合的倾斜光学系统，对不可测量的Highly Reflective Die（镜面）元件提供3D检测。
The Meister D is the Koh Young AOI solution targeting the demanding SEMICON-level products utilizing high density placements and mirror-surfaced components. In addition to the Zenith AOI feature set, the Meister-D delivers additional features required for SEMICON-level products.
