Koh Young Technology将在Nepcon Asia 2024上展示其屡获殊荣的真三维(True 3D)检测解决方案
Koh Young Technology在NEPCON ASIA上展示其检测解决方案2024年11月6日至8日,深圳 韩国首尔-基于真三维(True 3D)测量的检测行业领导者KohYoung Technology将参加11月6日至11月8日在深圳国际会展中心举行的NEPCONASIA 2024会展(深圳),展位9E10上展示其屡获殊荣的检测解决方案。Koh Young的专家将展示焊膏检测(SPI)、自动光学检测(AOI)和透明体检测(DPI)解决方案如何提高生产质量和产量,特别是与KSMART解决方案(如KPO、KAP和Smart Review)相结合。Koh Young将重点介绍几个独特的解决方案; KY8030 NOVA(新产品)提供了成本与性能的理想组合,满足了多种应用需求,能够提升产品质量、 增加生产效率和改善操作效率,具有最佳的性价比。 Zenith NOVA(新产品)是由人工智能(AI)和机器学习驱动的真正的3D AOI解决方案。结合了最佳的微电子学和算法技术,Zenith Nova在不牺牲精确度的情况下实现了卓越的性能。 Neptune C+ 大多数透明体检测系统仅使用紫外线检查表面有无涂层,并使用某些测量仪测量某些特定点的材料厚度,但无法提供改进工艺所需的准确可靠的数据。此外,传统的激光共聚焦或电子显微镜系统虽然可以进行三维形状测量,但在量产使用时检测速度较慢,因此将其应用到量产中来改进工艺存在局限性。Neptune C+是解决这些问题的透明体三维测量和工艺改进的终极解决方案。 Meister S是半导体检测解决方案,专用于半导体封装&Mini/Micro-LED的最佳量产质量改善解决方案。Meister D/D+适用于高密度基板&镜面元件的最佳性能创新3D