Koh Young Future Forum 2023 : 3. Sitzung
“Powered by Generative AI: Accelerating Inspection Advancements“ 2023-09-25 – Seoul, Korea – Koh Young, der branchenführende Anbieter von Inspektionslösungen auf Basis von True-3D-Messungen, möchte erläutern, wie generative KI die Effizienz maximieren und die Produktionsleistung verbessern kann. Wir werden unsere ersten Sitzungen am 30. Oktober in englischer Sprache für unsere Anwender in der Region Amerika präsentieren. […]
Koh Young Future Forum 2023 : 2nd Session
“Essential Inspection Requirements for the Era of Convergence: Optimizing the Semiconductor and SMT Processes” 2023-05-18 – Seoul, Korea – Koh Young, the industry leader in True 3D measurement-based inspection solutions, is pleased to announce the second online seminar in our captivating year-long series. This exclusive online event promises to be a valuable and insightful experience, […]
[EPP Europe] Applying 3D Moiré Interferometry Measurement to SemiCon Applications
[EPP Europe] Innovative solutions for semiconductor packaging at ESTC
[EPP Europe] Reliance on Innovative Packaging Presents Opportunities and Challenges for Europe’s Chip Experts
