Lösungen

Entdecken Sie innovative Lösungen, die die ne este Technologie von Koh Young repräsentieren.

System zur Inspektion der Lotpaste (SPI)

System für Automatische Optische Inspektion (AOI)

Halbleiter-Inspektionssystem

Meister D/D+

Durchbruch in der True 3D-Messung von High-Density-Substraten, glänzenden Komponenten und stark reflektierenden Bauteilen

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Inspektionssystem für den Dispensingprozess (DPI)

Neptune C+

Bahnbrechendes True 3D in-line-Inspektionssystem für den Dispensingprozess (DPI) mit integrierter Schichtdickenmessung

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System für optische Schlußinspektion (FOI)

Smart Factory Lösungen