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Lösungen

Entdecken Sie True 3D-Inspektion und Smart Factory-Lösungen, die Koh Youngs neueste Technologie widerspiegeln.

Neptune C+

Solutions / Industrial / DPI / Neptune C+

Bahnbrechende True 3D in-line Dispensingprozess-Inspektion (DPI) mit Funktion für Dickenmessung auf Basis patentierter Technologien

Die meisten optischen Systeme verwenden UV-Licht, um die Oberfläche auf Vollständigkeit zu prüfen und die Materialdicke an einer speziellen Stelle zu messen. Doch diese Verfahren bringt nicht die erforderliche Genauigkeit und Wiederholbarkeit. Die Inspektion transparenter Materialien erwies sich als große Herausforderung für herkömmliche laser-konfokale oder elektronenmikroskopische Systeme, die ausschließlich dreidimensionale Formen messen.

Koh Youngs bahnbrechendes System Neptune C+ stellt die optimale Lösung für diese Herausforderungen dar.

Wesentliche Merkmale

Koh Young hat eine Lösung für die zerstörungsfreie Schichtdickenmessung von transparenten Materialien entwickelt. Das System ermöglicht Herstellern, die Details ihrer Prozesse zu untersuchen und Fehler mit 2D, 3D und Querschnittsbildern genau zu bestimmen.

Das System misst Materialien präzise auf Vollständigkeit, Dicke und Konsistenz mit benutzerdefinierter Schwelleneinstellung. Es prüft auch Lufteinschlüsse und andere Defekte mit einer Größe bis zu 200 Mikrometern und inspiziert sogar Bereiche, die ausgespart sind, auf Spritzspuren bis 100 µm.

Die Koh Young L.I.F.T.-Technologie ermöglicht eine zerstörungsfreie 3D-Inspektion zur präzisen Messung und Inspektion von Flüssigkeiten, die nass oder trocken  sind. L.I.F.T. nutzt auf der Basis der Niedrigkohärenz-Interferometrie Licht aus dem nahen Infrarot-Bereich (NIR), um Bilder durch mehrere Schichten einer Flüssigkeitsstruktur hindurch zu erfassen, unabhängig von deren Transparenz. Diese patentierte Technologie bietet die genaueste und zuverlässigste 3D-Inspektion jeder Oberfläche – ob glatt, uneben oder rau.

Mit der firmeneigenen maschinellen Lerntechnologie bietet Neptune C+ erweiterte Inspektionsfähigkeiten, die eine autonome Inspektion von Luftblasen ohne Anlernen und endloses Tuning ermöglichen.

System Neptune C+ ist nicht auf Schutzbeschichtungen beschränkt, sondern misst auch Underfill, Epoxidharz, Klebstoffe und mehr, um eine genaue Messung von transparenten, transluzenten und pigmentierten Materialien zu ermöglichen. Das System eignet sich derzeit für Acryl, Silikon, Polyurethan, wasserlösliche sowie UV-härtende und hybride Beschichtungen; weitere Materialien werden untersucht. Das Neptune C+ eignet sich für unterschiedliche Anwendungsbereiche, vom Forschungslabor bis zur Großserienproduktion.

Die Programmiersoftware von Neptune C+ bietet eine praxisnahe Benutzeroberfläche, die einen einfachen Rastergrafik-Editor emuliert, um eine intuitive Programmgenerierung mit großer Flexibilität zu ermöglichen. Die Programmierung wird weiter vereinfacht durch unsere Wizard-gestützte grafische Benutzeroberfläche. Alle Parameter können für eine rasche Einstellung und Umstellungen angepasst werden.

Koh Young bietet eine Funktion, die sowohl die Ober- als auch die Unterseite von Flachbaugruppen mittels Flipper-Option inspiziert.

Koh Young bietet eine perfekte Lösung für überlange Baugruppen, beispielsweise LED-Beleuchtung bis zu 1.300 mm, die mit der Longboard-Option auf 1.800 mm verlängert werden kann.

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