NEPCON JAPAN 2026

NEPCON JAPAN feiert sein 40-jähriges Jubiläum als führende Fachmesse für Elektronikfertigung und F&E-Technologien in Asien mit über 1.850 globalen Unternehmen und mehr als 92.000 Besuchern.

Entdecken Sie die leistungsstarken Inspektionstechnologien von Koh Young auf der NEPCON JAPAN 2026!

• Datum: 21.-23. Januar 2026 (Mittwoch – Freitag), 10:00 – 17:00

• Veranstaltungsort: Tokyo Big Sight, Tokyo, Japan 

• Stand: E13-32

Koh Young hält außerdem einen Vortrag im Rahmen des Exhibitors’ Product / Technology Seminar -New TechTrend-

We look forward to your interest and participation.

Details zur Session

• Thema: Optimizing Inspection Processes and Reducing Workforce
• Ort: Exhibitors’ Product/Technology Seminar ~New Tech Trend~ Venue①
• Datum & Uhrzeit: January 21 (Wed), 14:00 – 14:30
• Referent: Tom Hattori (GM at Japan Koh Young)

As component miniaturization and tighter mounting pitches advance, inspections such as SPI and AOI (pre- and post-reflow optical inspection) have become essential at each assembly stage. However, recipe creation, parameter tuning, and false call reduction still require significant engineering effort, limiting labor efficiency.

This presentation introduces an AI-driven approach to inspection process optimization. Koh Young’s automatic programming (KAP) and Smart Review leverage actual production results to automatically optimize inspection parameters, reducing setup workload and engineering dependency while improving productivity and maintaining stable quality.