比較できない性能を持つ世界最高の3D AOI

3次元AOIシステムのZenithは、Z軸を利用した3次元測定技術を用いて、基板に搭載された部品及びハンダフィレットの形状を抽出し、あらゆる不良を検出することで、既存の2次元AOIの限界を超える画期的なソリューションを提案します。

3次元AOIのソリューション

AOIメーカーは既存の2次元検査の限界を克服するために多くの試みをしてきました。3次元技術だけがこのような限界を克服できるソリューションとして認識されてきましたが、部品検査を3次元で測定するためには色々と解決しなければならない課題が存在しました。コーヨンテクノロジーの3次元AOIは3次元測定のため従来の課題を解決することによって新しい価値を創り出しています。

[影問題]

シングルプロジェクションの場合、光が入らない影の領域にて正確なデータが取得できません。

[反射光問題]

プロープに対し全反射する光では、センサーが正確に機能しません。

[プロジェクション障害物問題]

高い部品の場合、隣接した部品に影ができ、正確なデータが取得できません。

[ 測定範囲問題]

高いZ軸解像度と広い測定範囲が同時に保証されない場合、正確なデータ測定はできません。

測定値に基づいて直感的で正確な不良判断

3次元測定値を用いた一貫性のある、また、 信頼できる不良検出能力により、 ZenithAOIはお客様の生産ラインの效率化に貢献して参ります。


すべての不良の測定および検査

欠品、部品方向違い、XYθズレ、オフセット、浮き、チップ立ち、ブリッジ、部品違い、ハンダフィレット、表裏反転、部品不良、文字、極性など、すべての不良の検出が可能です。

寸法不良

回転

ブリッジ

リード浮き

欠品

部品立

裏返し

OCVR

オフセット
3Dの価値 = (Low False Call & Escape) + (Minimizing Visual Inspection) + (Maintaining High Yield) = High Productivity